GB/T 37211.3-2022 金属锗化学分析方法 第3部分:痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
Method for chemical analysis of metal germanium—Part 3: Determination of trace impurity elements content—Glow discharge mass spectrometry
内容简介
国家标准《金属锗化学分析方法 第3部分:痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。本文件规定了辉光放电质谱法测定金属锗中痕量杂质元素含量的方法。本文件适用于金属锗中痕量杂质元素含量的测定，测定范围为0.001 mg/kg～2 mg/kg。
起草单位
安徽光智科技有限公司、国标（北京）检验认证有限公司、东方电气（乐山）峨半高纯材料有限公司、广东先导稀材股份有限公司、云南驰宏锌锗股份有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、有研国晶辉新材料有限公司、广东飞成新材料有限公司、
起草人
朱赞芳、谭秀珍、吴王昌、黎亚文、李正美、崔丁方、廖吉伟、刘红、李瑶、刘英波、李江霖、段春芳、
相近标准
金属锗化学分析方法第3部分:痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法20202882-T-469金属锗化学分析方法第3部分:痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法YS/T895-2013高纯铼化学分析方法痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法YS/T891-2013高纯钛化学分析方法痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法YS/T899-2013高纯钽化学分析方法痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法YS/T897-2013高纯铌化学分析方法痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法YS/T1473-2021高纯钼化学分析方法？痕量杂质元素的测定？辉光放电质谱法20142685-T-610高纯银化学分析方法痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法YS/T901-2013高纯钨化学分析方法痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法GB/T36590-2018高纯银化学分析方法痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请及时联系我们！