SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法
内容简介
行业标准《晶体管低频噪声参数测试方法》由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了晶体管1HZ~300KHZ频率范围内的噪声参数测试方法及要求,适用于双极型晶体管与场效应晶体管,其他晶体管产品可参照执行。
起草单位
工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学等、中国运载火箭技术研究院、
起草人
罗宏伟、胡为、王小强、
相近标准
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