GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device
内容简介
国家标准《半导体集成电路 驱动器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。本文件规定了半导体集成电路驱动器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原理和测试程序。本文件适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、 LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。其他类 别驱动器的测试参考使用。
起草单位
中国电子技术标准化研究院、安徽大华半导体科技有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、中国电子科技集团公司第二十四研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所、成都振芯科技股份有限公司、
起草人
刘芳、周俊、刘凡、霍玉柱、梁希、王会影、杨晓强、纵雷、林瑜攀、陆坚、
相近标准
SJ/T10074-1991半导体集成电路CT75188型四线驱动器SJ/T10075-1991半导体集成电路CJ75361型双TTL--MOS驱动器SJ/T10077-1991半导体集成电路CJ7549型MOS--LED显示驱动器SJ/T10258-1991半导体集成电路CD1405CP五点LED电平显示驱动器详细规范SJ/T10263-1991半导体集成电路CD7666GP双五点LED电平显示驱动器详细规范20182269-T-339半导体集成电路射频发射器/接收器测试方法SJ/T11702-2018半导体集成电路串行外设接口测试方法SJ/T10805-2018半导体集成电路电压比较器测试方法SJ/T10741-2000半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T11706-2018半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法
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