当前位置:主页国家标准

GB/T 43228-2023 宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求

GB/T 43228-2023 宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求

Design requirements for space radiation-hardened integrated circuit standard cell library

GB/T 43228-2023

国家标准推荐性

标准详情

  • 标准名称:宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求
  • 标准号:GB/T 43228-2023
    中国标准分类号:V25
  • 发布日期:2023-09-07
    国际标准分类号:49.140
  • 实施日期:2024-01-01
    技术归口:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
  • 代替标准:
    批准发布部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:航空器和航天器工程航天系统和操作装置

内容简介

国家标准《宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求》由TC425(全国宇航技术及其应用标准化技术委员会)归口,TC425SC2(全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。本文件规定了宇航用抗辐射加固集成电路单元库(以下简称“加固单元库”)的组成、辐射效应建模与仿真、加固单位库设计、设计套件的设计和验证、加固单元库的验证、加固单元库手册编制等要求。本文件适用于体硅/SOM CMOS工艺的加固单元库设计,以及产品研制前对加固单元库的综合评价。

起草单位

北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院、

起草人

赵元富、王亮、孙永姝、李同德、王慜、刘征宇、岳素格、周亮、林建京、赵曦、

相近标准

GB/T41033-2021CMOS集成电路抗辐射加固设计要求GB/T38345-2019宇航用半导体集成电路通用设计要求20214379-T-469宇航用微波集成电路芯片通用规范GB/T38313-2019宇航用纤维光学器件设计与验证要求GB/T38314-2019宇航用锂离子蓄电池组设计与验证要求GB/T43227-2023宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法YD/T1329-2004通信设备过电压过电流保护用集成电路型保安单元20182265-T-339集成电路知识产权(IP)核设计要求SY/T7689-2023盐穴储气库腔体设计技术要求GB/T43226-2023宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用,不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权,请及时联系我们!

相关推荐