GB/T 43196-2023 纳米技术 扫描电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布
Nanotechnologies—Measurements of particle size and shape distributions by scanning electron microscopy
内容简介
国家标准《纳米技术 扫描电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。本文件规定了通过获取和分析纳米颗粒的扫描电子显微镜（SEM）图像，从而确定纳米FM粒粒度及形状分布的方法。
起草单位
中国计量科学研究院、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京市理化分析测试中心）、卡尔蔡司（上海）管理有限公司、中国检验检疫科学研究院、国家纳米科学中心、山东省计量科学研究院、北京海岸鸿蒙标准物质技术有限责任公司、北京粉体技术协会、
起草人
黄鹭、 常怀秋、 李伟、 曹丛、 王贤浩、 朱晓阳、 施玉书、 李力、 刘俊杰、白露、李旭、高原、窦晓亮、席广成、周素红、
相近标准
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