GB/T 15651.6-2023 半导体器件 第5-6部分：光电子器件 发光二极管
Semiconductor devices—Part 5-6: Optoelectronic devices—Light emitting diodes
内容简介
国家标准《半导体器件 第5-6部分：光电子器件 发光二极管》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。本文件规定了一般工业应川的发光二极管（LED）的术语、基本额定值和特性、测试方法和质最评定，涉及信号器、控制器、传感器等。本文件不包括照明用LED。LED分为以下五种类型：a）LED器件；b）LED平面发光器件；c）LED数字显示和字母-数字显示；d）显示用点阵LED；e）红外发射二极管（IRLED)；f）紫外发射二极管（UVLED)。本文件包括带有散热器或具有同等散热器功能的LED。本文件不包括整体LED和控制装置、集成LED模块、半集成LED模块、集成LED灯或半集成LED灯。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子技术标准化研究院、晶能光电(江西)有限公司、鸿利智汇集团股份有限公司、福建鸿博光电科技有限公司、北京集创北方科技股份有限公司、国家半导体器件质量检验检测中心、深圳市标准技术研究院、山东浪潮华光光电子股份有限公司、华南理工大学、广州赛西标准检测研究院有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、
起草人
刘东月、 黄杰、 赵涛、 胡轶、 李宗涛、 陈庆美、 茹志芹、 赵莉红、 赵鹏、 赵敏、刘秀娟、王成新、吕天刚、吴杜雄、樊磊、刘芳、李长普、
相近标准
20231206-T-339半导体器件第5-8部分：光电子器件发光二极管光电效率测试方法20231205-T-339半导体器件第5-11部分：光电子器件发光二极管辐射和非辐射电流的测试方法20231209-T-339半导体器件第5-10部分：光电子器件发光二极管基于室温参考的内部量子效率的测试方法20233683-T-339半导体器件第5-4部分：光电子器件半导体激光器20231207-T-339半导体器件第5-9部分:光电子器件发光二极管基于温度相关的电致发光内量子效率测试方法20162480-T-339半导体器件第5-5部分：光电子器件光电耦合器GB/T18904.3-2002半导体器件第12-3部分:光电子器件显示用发光二极管空白详细规范20231204-T-339半导体器件第5-13部分：光电子器件LED封装的硫化氢腐蚀试验20221732-T-339激光显示器件第5-6部分：投影屏幕光学性能测试方法GB/T15651-1995半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请及时联系我们！