当前位置：首页国外标准

ISO/DIS 14706-2013 表面化学分析， （ TXRF ）光谱表面元素污染的硅晶片上通过全反射X射线荧光法测定

ISO/DIS 14706-2013 表面化学分析， （ TXRF ）光谱表面元素污染的硅晶片上通过全反射X射线荧光法测定

ISO/DIS 14706-2013 标准详情

  • 标准号：ISO/DIS 14706-2013
  • 中文标题：表面化学分析， （ TXRF ）光谱表面元素污染的硅晶片上通过全反射X射线荧光法测定
  • 英文标题：Surface chemical analysis. Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
  • 标准类别：国际标准化组织ISO
  • 发布日期：

内容简介

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！

版权限制暂无下载
  • 标准质量：

    • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
    ② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
    ③ 代购正版，联系：联系邮箱

「相关推荐」