EIA JESD 29-1995 标准详情
- 标准号：EIA JESD 29-1995
- 中文标题：故障机制驱动的可靠性监视
- 英文标题：Failure-mechanism-driven Reliability Monitoring
- 标准类别：美国电子工业协会EIA
- 发布日期：
EIA JESD 29-1995 故障机制驱动的可靠性监视
内容简介
Considered a minimum standard for the application of Statistical Reliability Monitoring (SRM) techniques to monitor and improve the reliability of silicon devices by continually evaluating product against potential failure mechanisms. OEMs must provi
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