SS EN 60749-18 Ed. 1 标准详情
- 标准号：SS EN 60749-18 Ed. 1
- 中文标题：半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第18部分：电离辐射（总剂量）
- 英文标题：Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 18: Ionizing Radiation (total Dose)
- 标准类别：新加坡SS
- 发布日期：
SS EN 60749-18 Ed. 1 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第18部分：电离辐射（总剂量）
内容简介
Covers a test procedure for defining requirements for testing packaged semiconductor integrated circuits and discrete semiconductor devices for ionizing radiation (total dose) effects from a cobalt-60 ([60]Co) gamma ray source.
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