NEN 10747-10-1997 标准详情
- 标准号：NEN 10747-10-1997
- 中文标题：
- 英文标题：Semiconductor Devices - Part 10: Generic Specifications For Discrete Devices And Integrated Circuits
- 标准类别：荷兰国家标准NEN
- 发布日期：
NEN 10747-10-1997
内容简介
Defines general procedures for quality assessment to be used in the IEQO System and gives general rules for- measurement methods of electrical characteristics; climatic and mechanical tests; endurance tests.
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