AEC Q100-006 Revision D 标准详情
- 标准号：AEC Q100-006 Revision D
- 中文标题：电热致寄生栅漏测试（ GL ）
- 英文标题：Electro-thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (gl)
- 标准类别：其他国内外OTHERSS
- 发布日期：
AEC Q100-006 Revision D 电热致寄生栅漏测试（ GL ）
内容简介
Establishes a reliable and repeatable procedure for determining surface mount integrated circuit susceptibility to Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage (GL).
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