GB/T 24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范
内容简介
国家标准《半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位
中国电子技术标准化研究所、
起草人
黄英华、刘筠、张建勇、蒋迪宝、
相近标准
20068064-T-469半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范核电厂可靠性、可用性、可维修性和安全性管理规范20070291-T-347轨道交通可靠性、可用性、可维修性和安全性规范及示例GB/T21562-2008轨道交通可靠性、可用性、可维修性和安全性规范及示例GB/T3187-1994可靠性、维修性术语GB/T21562.3-2015轨道交通可靠性、可用性、可维修性和安全性规范及示例第3部分:机车车辆RAM的应用指南20111870-T-347轨道交通可靠性、可用性、可维修性和安全性规范及示例第3部分:机车车辆RAM的应用指南SY/T6295-2006石油钻采设备可靠性、维修性预计方法GB/T5271.14-1985数据处理词汇14部分可靠性维修和可用性GB/T21562.2-2015轨道交通可靠性、可用性、可维修性和安全性规范及示例第2部分:安全性的应用指南
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用,不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权,请及时联系我们!