NF EN 60749-30/A1-2011 Dispositifs semiconducteurs ， Mhodes科特迪瓦的Essais maniques等climatiques ， Partie 30 ： pronditionnement德composants倒蒙太奇的连接面非hermiques前卫莱的Essais去fiabilitemiconductor器件 - 机械和气候试验方法 - 第30部分：预
NF EN 60749-30/A1-2011 标准详情
- 标准号：NF EN 60749-30/A1-2011
- 中文标题：Dispositifs semiconducteurs ， Mhodes科特迪瓦的Essais maniques等climatiques ， Partie 30 ： pronditionnement德composants倒蒙太奇的连接面非hermiques前卫莱的Essais去fiabilitemiconductor器件 - 机械和气候试验方法 - 第30部分：预
- 英文标题：Dispositifs semiconducteurs. Mhodes d'essais maniques et climatiques. Partie 30 : pronditionnement des composants pour montage en surface non hermiques avant les essais de fiabilitemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30
- 标准类别：法国国家NF
- 发布日期：2011-11-01
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