UNE EN 60749-13-2003 标准详情
- 标准号：UNE EN 60749-13-2003
- 中文标题：
- 英文标题：Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Salt Atmosphere
- 标准类别：西班牙国家标准UNE
- 发布日期：
UNE EN 60749-13-2003
内容简介
Gives a salt atmosphere test that determine the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices whic
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