NF EN 60749-29-2012 Dispositifs semiconducteurs ， Mhodes科特迪瓦的Essais maniques等climatiques ， Partie 29 ： essai去verrouillage半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第29部分：闩锁测试
NF EN 60749-29-2012 标准详情
- 标准号：NF EN 60749-29-2012
- 中文标题：Dispositifs semiconducteurs ， Mhodes科特迪瓦的Essais maniques等climatiques ， Partie 29 ： essai去verrouillage半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第29部分：闩锁测试
- 英文标题：Dispositifs semiconducteurs. Mhodes d'essais maniques et climatiques. Partie 29 : essai de verrouillage Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29 : latch-up test
- 标准类别：法国国家NF
- 发布日期：2012-08-01
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