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ASTM F616M-1996(2003) 测量MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)排漏电流的标准测试方法(米制单位)

ASTM F616M-1996(2003) 测量MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)排漏电流的标准测试方法(米制单位)

ASTM F616M-1996(2003) 标准详情

  • 标准号:ASTM F616M-1996(2003)
  • 中文标题:测量MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)排漏电流的标准测试方法(米制单位)
  • 英文标题:Standard Test Method for Measuring MOSFET Drain Leakage Current (Metric)
  • 标准类别:美国材料与试验协会ASTM
  • 发布日期:1996

内容简介

1.1 This test method covers the measurement of MOSFET (Note 1) drain leakage current.Note 18212;MOS is an acronym for metal-oxide semiconductor; FET is an acronym for field-effect transistor.1.2 This test method is applicable to all enhancement-mode

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