NF EN 60749-40-2012 标准详情
- 标准号：NF EN 60749-40-2012
- 中文标题：
- 英文标题：Dispositifs semiconducteurs. Mhodes d'essais maniques et climatiques. Partie 40 : mhode d'essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d'une jauge de contrainte Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40 : boar
- 标准类别：法国国家NF
- 发布日期：2012-02-01
