ASTM F673-90e1 标准详情
- 标准号：ASTM F673-90e1
- 中文标题：标准测试方法测量半导体片的电阻或半导体薄膜的电阻片与非接触式涡流测量仪
- 英文标题：Standard Test Methods for Measuring Resistivity of Semiconductor Slices or Sheet Resistance of Semiconductor Films with a Noncontact Eddy-Current Gage
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：
