GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination
内容简介
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所、
起草人
陈海蓉、李丽霞、崔波、
相近标准
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