NEN EN IEC 62132-3-2007 集成电路 - 测量电磁抗扰度， 150 kHz至1千兆赫 - 第3部分：大电流注入（ BCI ）法
NEN EN IEC 62132-3-2007 标准详情
- 标准号：NEN EN IEC 62132-3-2007
- 中文标题：集成电路 - 测量电磁抗扰度， 150 kHz至1千兆赫 - 第3部分：大电流注入（ BCI ）法
- 英文标题：Integrated Circuits - Measurement Of Electromagnetic Immunity, 150 Khz To 1 Ghz - Part 3: Bulk Current Injection (bci) Method
- 标准类别：荷兰国家标准NEN
- 发布日期：
内容简介
Explains a bulk current injection (BCI) test method to measure the immunity of integrated circuits (IC) in the presence of conducted RF disturbances, e.g. resulting from radiated RF disturbances.
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