ASTM F2074-2000 标准详情
- 标准号：ASTM F2074-2000
- 中文标题：测定硅和其他半导体薄片直径的标准指南
- 英文标题：Standard Guide for Measuring Diameter of Silicon and Other Semiconductor Wafers
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：2000
ASTM F2074-2000 测定硅和其他半导体薄片直径的标准指南
内容简介
This standard was transferred to SEMI (www.semi.org) May 20031.1 This guide defines standardized positions for measuring diameter of circular wafers of silicon and other semiconducting materials that contain flats or notches on the periphery. It was
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：