ISO 15932-2013 标准详情
- 标准号：ISO 15932-2013
- 中文标题：微光束分析.分析电子显微镜.词汇
- 英文标题：Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Vocabulary
- 标准类别：国际标准化组织ISO
- 发布日期：2013-12-13
ISO 15932-2013 微光束分析.分析电子显微镜.词汇
内容简介
ISO 15932:2013 defines terms used in the practice of AEM. It covers both general and specific concepts classified according to their hierarchy in a systematic order. It is applicable to all standardization documents relevant to the practice of AEM. I
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：