NF EN 62418-2011 标准详情
- 标准号：NF EN 62418-2011
- 中文标题：半导体设备 - 金属化压力测试无效Dispositifs半conducteurs ， Essai河畔莱CAVIT会费辅助contraintes德拉mallisation
- 英文标题：Semiconductor devices - Metallization stress void test Dispositifs semi-conducteurs. Essai sur les cavit dues aux contraintes de la mallisation
- 标准类别：法国国家NF
- 发布日期：2011-03-01
