DS/EN 60749-27/A1-2013 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第27部分：静电放电（ ESD ）灵敏度测试 - 机器模型（ MM ）
DS/EN 60749-27/A1-2013 标准详情
- 标准号：DS/EN 60749-27/A1-2013
- 中文标题：半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第27部分：静电放电（ ESD ）灵敏度测试 - 机器模型（ MM ）
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
- 标准类别：丹麦DANSK
- 发布日期：2013-01-25
内容简介
Establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD). It may be used as an alternative
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