SS EN 60749-13 Ed. 1 标准详情
- 标准号：SS EN 60749-13 Ed. 1
- 中文标题：半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第13部分：盐雾
- 英文标题：Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 13: Salt Atmosphere
- 标准类别：新加坡SS
- 发布日期：
SS EN 60749-13 Ed. 1 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第13部分：盐雾
内容简介
Gives a salt atmosphere test that determine the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices whic
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