ISO 13424-2013 标准详情
- 标准号：ISO 13424-2013
- 中文标题：表面化学分析.X射线光谱.薄膜分析报表
- 英文标题：Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Reporting of results of thin-film analysis
- 标准类别：国际标准化组织ISO
- 发布日期：2013-09-23
ISO 13424-2013 表面化学分析.X射线光谱.薄膜分析报表
内容简介
ISO 13424:2013 specifies the minimum amount of information required in reports of analyses of thin films on a substrate by XPS. These analyses involve measurement of the chemical composition and thickness of homogeneous thin films, and measurement of
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