SS EN 60749-35 Ed. 1 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第35部分：声学显微镜对于塑料封装电子元件
SS EN 60749-35 Ed. 1 标准详情
- 标准号：SS EN 60749-35 Ed. 1
- 中文标题：半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第35部分：声学显微镜对于塑料封装电子元件
- 英文标题：Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 35: Acoustic Microscopy For Plastic Encapsulated Electronic Components
- 标准类别：新加坡SS
- 发布日期：
内容简介
Defines the procedures for performing acoustic microscopy on plastic encapsulated electronic components.
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