OVE/ONORM EN 60749-7-2003 标准详情
- 标准号：OVE/ONORM EN 60749-7-2003
- 中文标题：半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第7部分：内部水分含量测量和分析其他残余气体
- 英文标题：Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 7: Internal Moisture Content Measurement And The Analysis Of Other Residual Gases
- 标准类别：奥地利国家标准ONORM
- 发布日期：
