EIA JEB 5-1970 标准详情
- 标准号：EIA JEB 5-1970
- 中文标题：方法测量半导体逻辑门控微型
- 英文标题：Methods Of Measurement For Semiconductor Logic Gating Microcircuits
- 标准类别：美国电子工业协会EIA
- 发布日期：
EIA JEB 5-1970 方法测量半导体逻辑门控微型
内容简介
Defines the rating of semiconductor logic gating microcircuits which use the binary states to represent and process logic information. Dynamic and static measurements are included.
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