ISO 20263-2017 标准详情
- 标准号：ISO 20263-2017
- 中文标题：
- 英文标题：Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
- 标准类别：国际标准化组织ISO
- 发布日期：
ISO 20263-2017
内容简介
ISO 20263:2017 specifies a procedure for the determination of averaged interface position between two different layered materials recorded in the cross-sectional image of the multi-layered materials. It is not intended to determine the simulated inte
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