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CECC CECC 90 109- 861 ISSUE 1-1990 数字集成电路硅单片? MOS ，腔或无腔封装，类型（S ）， 54/74 HCT 533三态八路反相D型透明锁存器，评估水平P， Y， L（英语，法语）

CECC CECC 90 109- 861 ISSUE 1-1990 数字集成电路硅单片? MOS ，腔或无腔封装，类型（S ）， 54/74 HCT 533三态八路反相D型透明锁存器，评估水平P， Y， L（英语，法语）

CECC CECC 90 109- 861 ISSUE 1-1990 标准详情

标准号：CECC CECC 90 109- 861 ISSUE 1-1990
中文标题：数字集成电路硅单片? MOS ，腔或无腔封装，类型（S ）， 54/74 HCT 533三态八路反相D型透明锁存器，评估水平P， Y， L（英语，法语）
英文标题：Digital Integrated Circuits; Silicon Monolithic C MOS, Cavity or Non-Cavity Packages; Type(s); 54/74 HCT 533 3-State Octal Inverting D-Type Transparent Latch; Assessment Levels P, Y ,L (En, Fr)
标准类别：欧洲电子元器件委员会CECC
发布日期：1990-01-01

内容简介

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