JEDEC JESD78A-2006 标准详情
- 标准号:JEDEC JESD78A-2006
- 中文标题:IC锁定试验
- 英文标题:ic latch-up test [replaced: jedec jesd17]
- 标准类别:电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期:2006-02-01
This specification covers the I-test and the overvoltage latch-up testing of integrated circuits.
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