JEDEC JESD60-1997 标准详情
- 标准号:JEDEC JESD60-1997
- 中文标题:过程,用于测量p沟道MOSFET的热载流子引起的退化,在最大的栅极电流直流应力下
- 英文标题:procedure for measuring p-channel mosfet hot-carrier-induced degradation at maximum gate current under dc stress
- 标准类别:电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期:
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