EN 62132-3-2007 标准详情
- 标准号：EN 62132-3-2007
- 中文标题：集成电路.150kHz至1GHz电磁抗扰性的测量.第3部分:大容量电流注入(BCI)法
- 英文标题：integrated circuits - measurement of electromagnetic immunity, 150 khz to 1 ghz -- part 3: bulk current injection (bci) method
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2007-10-10
EN 62132-3-2007 集成电路.150kHz至1GHz电磁抗扰性的测量.第3部分:大容量电流注入(BCI)法
内容简介
Explains a bulk current injection (BCI) test method to measure the immunity of integrated circuits (IC) in the presence of conducted RF disturbances, e.g. resulting from radiated RF disturbances.
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：
下载说明
「相关推荐」
- 1EN 62132-3-2007 集成电路.150kHz至1GHz电磁抗扰性的测量.第3部分:大容量电流注入(BCI)法
- 2EN 62132-3-2007 集成电路.150kHz至1GHz电磁抗扰性的测量.第3部分:大容量电流注入(BCI)法
- 3EN 62132-3-2007 集成电路.150kHz至1GHz电磁抗扰性的测量.第3部分:大容量电流注入(BCI)法
- 4EN 62132-3-2007 集成电路.150kHz至1GHz电磁抗扰性的测量.第3部分:大容量电流注入(BCI)法
- 5EN 62132-3-2007 集成电路.150kHz至1GHz电磁抗扰性的测量.第3部分:大容量电流注入(BCI)法