ESD TR5.4-03-2011 标准详情
- 标准号:ESD TR5.4-03-2011
- 中文标题:
- 英文标题:Latch-Up Sensitivity Testing Of Cmos/Bi Cmos Integrated Circuits - Transient Latch-Up Testing - Component Level Supply Transient Stimulation
- 标准类别:其他国内外OTHERSS
- 发布日期:
Defines to instruct the reader on the methods and materials needed to perform Transient Latch-Up Testing.
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