GB/T 42974-2023 半导体集成电路 快闪存储器（FLASH）
Semiconductor integrated circuits—Flash memory(FLASH)
内容简介
国家标准《半导体集成电路 快闪存储器（FLASH）》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。本文件规定了快闪存储器（FLASH）的分类、技术要求、电测试方法和检验规则。本文件适用于FLASH的设计、制造、采购、验收。
起草单位
中国电子技术标准化研究院、合肥美菱物联科技有限公司、芯天下技术股份有限公司、兆易创新科技集团股份有限公司、存心科技（北京）有限公司、三旗（惠州）电子科技有限公司、
起草人
罗晓羽、何卫、苏志强、李东琦、张静、李柏泉、李海龙、辛钧、胡洪、韩旭、龙冬庆、王如松、李敬、
相近标准
GB/T36477-2018半导体集成电路快闪存储器测试方法GB/T35008-2018串行NOR型快闪存储器接口规范GB/T35009-2018串行NAND型快闪存储器接口规范SJ/T11701-2018通用NAND型快闪存储器接口GB/T6648-1986半导体集成电路静态读/写存储器空白详细规范(可供认证用)
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请及时联系我们！