GB/T 42976-2023 纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜光学性能测试方法
Nanotechnology—Nano-enabled optoelectrical display— Measurement of optical performance for quantum dot enabled light conversion film
内容简介
国家标准《纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜光学性能测试方法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。本文件描述了量子点光转换膜光学性能的测试方法。包括方法原理、仪器和设备、测试样品、测试程序、数据处理、测试报告等。本文件适用于液晶显示器件用址子点光转换膜光学性能的测量，其他类型光转换膜光学性能的测量参照执行。
起草单位
纳晶科技股份有限公司、深圳TCL新技术有限公司、海信视像科技股份有限公司、武汉珈源同创科技有限公司、杭州英诺维科技有限公司、中国计量大学、北京理工大学、南方科技大学、南京理工大学、国家纳米科学中心、广东普加福光电科技有限公司、北京北达聚邦科技有限公司、南开大学、浙江大学、广州特种承压设备检测研究院、TCL华星光电技术有限公司、致晶科技（北京）有限公司、
起草人
康永印、刘忍肖、葛广路、季洪雷、刘卫东、穆琳佳、庞代文、赵飞、刘祖刚、尹宗杰、孙小卫、柏泽龙、罗飞、张佳琪、许怀书、李阳、郭海清、朱东亮、李俊凯、秦海燕、钟海政、黄卫东、曾海波、
相近标准
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