标准详情
- 标准名称：石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
- 标准号：GB/T 22319.6-2023
- 中国标准分类号：L21
- 发布日期：2023-09-07
- 国际标准分类号：31.140
- 实施日期：2024-01-01
- 技术归口：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
- 代替标准：
- 批准发布部门：工业和信息化部（电子）
- 标准分类：电子学频率控制和选择用压电器件与介质器件
GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 6: Measurement of drive level dependence(DLD)
内容简介
国家标准《石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量》由TC182（全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。本文件适用于石英晶体元件激励电平相关性（DLD）的测量。本文件规定两种试验方法（A和C）和一种基准测量方法（方法B）。方法A以IEC60444-5的π型网络为基础，适用于本文件所覆盖的整个频率范围。基准测量方法B依据IEC 60444-5或IEC 60444-8的π型网络或反射法为基础，适用于本文件所覆盖的整个频率范围。方法C是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。
起草单位
郑州原创电子科技有限公司、武汉海创电子股份有限公司、北京晨晶电子有限公司、
起草人
王国军、 宫桂英、 毛晶、
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