DB51/T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范
内容简介
地方标准《集成电路测试用微波探针应用规范》由四川省经济和信息化厅归口上报，主管部门为四川省市场监督管理局。本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
起草单位
中国电子科技集团公司第九研究所
起草人
刘福涵、冯楠轩、王慧丽、张芦、高春燕、丁敬垒、李晓宇、张志红、高晓琴、肖佳琪
相近标准
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