IEC 62416-2010 标准详情
- 标准号：IEC 62416-2010
- 中文标题：半导体器件 MOS晶体管的热载子试验
- 英文标题：semiconductor devices - hot carrier test on mos transistors
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2010-04-26
IEC 62416-2010 半导体器件 MOS晶体管的热载子试验
内容简介
IEC 62416:2010 DESCRIBES THE WAFER LEVEL HOT CARRIER TEST ON NMOS AND PMOS TRANSISTORS. THE TEST IS INTENDED TO DETERMINE WHETHER THE SINGLE TRANSISTORS IN A CERTAIN (C)MOS PROCESS MEET THE REQUIRED HOT CARRIER LIFETIME.
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