ISO 16700-2004 标准详情
- 标准号：ISO 16700-2004
- 中文标题：微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- 英文标题：Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification
- 标准类别：国际标准化组织标准ISO
- 发布日期：2004-03
ISO 16700-2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
内容简介
ISO 16700:2004 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range o
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