JEDEC JEP118-1993 标准详情
- 标准号：JEDEC JEP118-1993
- 中文标题：GaAs MMIC和FET寿命试验导则
- 英文标题：guidelines for gaas mmic and fet life testing
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：1993-01-01
JEDEC JEP118-1993 GaAs MMIC和FET寿命试验导则
内容简介
Life tests are run for various purposes. Tests run to detect the level of infant mortality involve short timedurations; unless the percentage of devi& having infant mortality is extremely high, the sample sizespecified in this document is not nearly
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：