ASTM F980-2010 标准详情
- 标准号：ASTM F980-2010
- 中文标题：测量硅半导体器件中中子感应位移故障的快速退火用标准指南
- 英文标题：Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：2010-12-01
ASTM F980-2010 测量硅半导体器件中中子感应位移故障的快速退火用标准指南
内容简介
Electronic circuits used in many space, military, and nuclear power systems may be exposed to various levels and time profiles of neutron radiation. It is essential for the design and fabrication of such circuits that test methods be available that
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