ISO 25498-2010 微光束分析 分析电子显微镜 用透射电子显微镜进行选定区域电子衍射分析
ISO 25498-2010 标准详情
- 标准号：ISO 25498-2010
- 中文标题：微光束分析 分析电子显微镜 用透射电子显微镜进行选定区域电子衍射分析
- 英文标题：microbeam analysis -- analytical electron microscopy -- selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
- 标准类别：国际标准化组织标准ISO
- 发布日期：2010-05-17
内容简介
ISO 25498:2010 specifies the method of selected-area electron diffraction (SAED) analysis using a transmission electron microscope (TEM) to analyse micrometer and sub-micrometer sized areas of thin crystalline specimens. Such specimens can be obtaine
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