ASTM F637-1985 环形带载半导体器件用19MM和35MM宽可测带载体的格式、物理特性和试验方法
ASTM F637-1985 标准详情
- 标准号：ASTM F637-1985
- 中文标题：环形带载半导体器件用19MM和35MM宽可测带载体的格式、物理特性和试验方法
- 英文标题：format, physical properties and test methods for 19 and 35 mm testable tape carrier for perimeter tape carrier-bonded semiconductor devices
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：1985-00-00
内容简介
CONTAINED IN VOLUME 10.04, 2001Covers testable semiconductor lead carrier tape suitablefor hybrid applications.
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