IEC 62132-3-2007 集成电路.150kHz～1GHz电磁抗扰性的测量.第3部分:大容量电流注入(BCI)法
IEC 62132-3-2007 标准详情
- 标准号：IEC 62132-3-2007
- 中文标题：集成电路.150kHz～1GHz电磁抗扰性的测量.第3部分:大容量电流注入(BCI)法
- 英文标题：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Bulk current injection (BCI) method
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2007-09
内容简介
This part of IEC 621 32 describes a bulk current injection(BCI)test method to measure the immunity of integrated circuts(IC) in the presence of conducted RF disturbances,e.g.resulting from radiated RF disturbances.This method only applies to ICs that
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