IEC 62526 Ed. 1.0 标准详情
- 标准号：IEC 62526 Ed. 1.0
- 中文标题：
- 英文标题：Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments
- 标准类别：国际电工委员会IEC
- 发布日期：
IEC 62526 Ed. 1.0
内容简介
Provides an interface between digital test generation tools and test equipment. A test description language is defined that-(a) facilitates the transfer of digital test vector data from CAE to ATE environments;(b) specifies patten, format, and timing
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