JEDEC JESD22-C101C-2004 微电子元件抗静电放电域值的场诱导放电装置模型的试验方法
JEDEC JESD22-C101C-2004 标准详情
- 标准号：JEDEC JESD22-C101C-2004
- 中文标题：微电子元件抗静电放电域值的场诱导放电装置模型的试验方法
- 英文标题：field-induced charged-device model test method for electrostatic- discharge-withstand thresholds of microelectronic components
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：2004
内容简介
This standard describes a uniform method for establishing charged device model (CDM) electrostaticdischarge (ESD) “withstand” thresholds.Copyright Solid State Technology AssociationReproduced by IHS under license with JEDECNo reproduction or networki
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