JEDEC JESD35-2-1996 标准详情
- 标准号：JEDEC JESD35-2-1996
- 中文标题：测定薄电介质的维夫-水平试验（Wafer-Level）测试准则.JESD35的No.2附录
- 英文标题：test criteria for the wafer-level testing of thin dielectrics
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：1996-01-01
JEDEC JESD35-2-1996 测定薄电介质的维夫-水平试验（Wafer-Level）测试准则.JESD35的No.2附录
内容简介
This addendum expands the usefulness of the JEDEC Standard No. 35 (JESD35) by detailing analternative method of determining the end point of the voltage ramp test and expanding the rangefor determination of the end point for the current ramp test.
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