SN EN 62373-2006 标准详情
- 标准号：SN EN 62373-2006
- 中文标题：
- 英文标题：Bias-temperature Stability Test For Metal-oxide, Semiconductor, Field-effect Transistors (mosfet)
- 标准类别：瑞士标准化协会SNV
- 发布日期：
SN EN 62373-2006
内容简介
Defines a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).
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